Seminar X-Ways Forensics Kompaktseminar

Inhaltsübersicht

• Schneller Einstieg in Oberfläche, Fälle und Asservate
• Image-Verarbeitung und Volume Snapshot
• Filter, Suche, Hashwerte und Trefferbewertung
• Ausgewählte Windows-Artefakte und Timeline-Grundlagen
• Berichtstabellen, Kommentare und einfache Übergabe

Überblick

Das Kompaktseminar bietet einen konzentrierten Einstieg in die Arbeit mit X-Ways Forensics. Es ist für Situationen gedacht, in denen eine vollständige fünftägige Schulung nicht möglich ist, aber dennoch eine belastbare operative Basis benötigt wird.

Die Inhalte sind bewusst auf typische Alltagsaufgaben ausgerichtet: Fall anlegen, Asservat prüfen, relevante Dateien finden, Suchtreffer bewerten, Artefakte einordnen und Ergebnisse sauber dokumentieren.

Zielgruppe

Geeignet für neue Anwender, Umsteiger von anderen Forensikwerkzeugen, Administratoren mit Untersuchungsauftrag, Ermittler mit technischem Anteil und Teams, die kurzfristig arbeitsfähig werden müssen.

Inhalte

• Grundkonzept, Arbeitsmodi und wichtige Programmeinstellungen
• Fallanlage, Arbeitsordner, Asservate, Images und erste Prüfschritte
• Volume Snapshot, Dateisignaturen, Metadaten und Dateitypprüfung
• Navigation im Verzeichnis-Browser und in relevanten Datenstrukturen
• Filter nach Typ, Name, Größe, Zeitstempel, Attribut und Pfad
• Hashwerte, Duplikaterkennung und einfache Hash-Set-Nutzung
• Logische Suche, Suchbegriffe, Kodierungen und Trefferkontext
• Ausgewählte Windows-Artefakte: Registry, Event Logs, LNK und Browserdaten
• Report Tables, Kommentare, Markierungen und einfache Berichtserstellung

Praktische Übungen

Ein komprimierter Musterfall führt durch die wichtigsten Bedienhandlungen. Der Schwerpunkt liegt auf sicherer Routine, nachvollziehbarer Reihenfolge und der Vermeidung typischer Anfängerfehler.

Voraussetzungen

Vorausgesetzt werden solide Windows- und IT-Grundkenntnisse. Forensische Vorerfahrung erleichtert den Einstieg, ist für das Kompaktformat aber nicht zwingend erforderlich.